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隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统(超声法)

简要描述:

隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统(超声法)仪器在非接触状态下可同时测量中心厚度和矢高用于基弧计算。特制的底座和定位夹具可使隐形眼镜平稳准确置于测量支座上。

更新时间:2019-03-03

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隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统(超声法)

整个测量腔体包含一个塑料水槽和镜片支座,镜片支座的直径为已知,超声探头从镜片支座下方穿入,对准镜片内表面,其发出聚焦型声波的焦点位于支架中心。镜片支座上覆盖有一层厚度非常小的塑料薄膜,塑料水槽内注满盐溶液。只要将被测角膜接触镜凹面朝下放到支座上,塑料薄膜就成为矢高的基准位置。

测量时,超声探头产生一个穿透盐溶液的锐聚焦超声波能量短脉冲,这个脉冲的部分能量将从塑料薄膜,镜片的内表面、镜片外表面,和盐溶液表面反射回探头。此时测厚仪就会记录下整个回波,然后非常精确的测量*次回波和第二次回波间隔时间,以及第二次回波和第三次回波之间时间间隔。(第四次回波对应的是盐溶液表面的反射,此处忽略。)

*次回波和第二次回波之间的时间间隔与塑料薄膜和镜片内表面之间的距离(即矢高)成正比的,第二次回波和第三次回波之间的时间间隔对应的就是镜片的厚度。可以通过公式计算出镜片的矢高和厚度。

而基弧的曲率半径则可以由公式计算得到。

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