隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统（超声法）

产品介绍

隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统（超声法）整个测量腔体包含一个塑料水槽和镜片支座，镜片支座的直径为已知，超声探头从镜片支座下方穿入，对准镜片内表面，其发出聚焦型声波的焦点位于支架中心。镜片支座上覆盖有一层厚度非常小的塑料薄膜，塑料水槽内注满盐溶液。只要将被测角膜接触镜凹面朝下放到支座上，塑料薄膜就成为矢高的基准位置。

测量时，超声探头产生一个穿透盐溶液的锐聚焦超声波能量短脉冲，这个脉冲的部分能量将从塑料薄膜，镜片的内表面、镜片外表面，和盐溶液表面反射回探头。此时测厚仪就会记录下整个回波，然后非常精确的测量*次回波和第二次回波间隔时间，以及第二次回波和第三次回波之间时间间隔。（第四次回波对应的是盐溶液表面的反射，此处忽略。）

*次回波和第二次回波之间的时间间隔与塑料薄膜和镜片内表面之间的距离（即矢高）成正比的，第二次回波和第三次回波之间的时间间隔对应的就是镜片的厚度。可以通过公式计算出镜片的矢高和厚度。

而基弧的曲率半径则可以由公式计算得到。

此处即可得到1-矢高，2-中心厚度，R-基弧曲率半径

校准：

任何超声测量设备的精度都取决于校准。对于角膜接触镜的测量，其精度取决于声波在盐溶液中的传输速度和特定的镜片材料。请注意盐溶液中的声波速度会随着温度和浓度而显著变化，且镜片中的声波速度也会受温度和镜片成份的影响。

建议的校准方法是在恒温下测量一个已知基弧和中心厚度的样品，然后校准超声测厚仪的声波。在校准良好的情况下，矢高和中心厚度的误差范围可以控制在+/- 0.01 mm。

隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统（超声法）产品构成

* 穿透性高精度多层超声测厚仪

* 微型水浸式聚焦探头和连接器

* 多层测量软件（不含PC）

* 测量腔：含亚克力测量室和镜片支座

* 夹具系统：含可上下调节的定位装置及四个夹具

* 夹具包含：通用型倾斜夹具（黑色+白色），快速夹具（黑色+白色）

隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统（超声法）主要技术参数

* 厚度测量范围：0.08~635mm（根据材料和探头配置而定）

* 材料声速范围：0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

* 分辨率：低分辨率0.1mm，标准分辨率0.01mm，高分辨率（可选）0.001mm

* 探头频率范围：标准：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）

* 检波：全波、RF波、正半波、负半波

* 测量层数：4层（多层软件选项）

* 具有差分模式和缩减率模式

* 时基B扫描模式，每次扫查可获得10000个可查读数

* 带有数字式过滤器的高动态增益技术

* 输出接口：MicroSD，USB，RS232，VGA

* 内置数据记录：475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形

* 防护性能：IP67

* 电源：AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。

* 夹具高度可调范围：0~15mm

* 快速夹具孔径：15mm台阶孔