人工晶状体中心厚度测量仪（低测力）

简要描述：人工晶状体中心厚度测量仪（低测力）
ET3-IOL是于测量人工晶状体（特别是软性人工晶状体）中心厚度的高精度仪器，是人工晶状体实验室的标准配置仪器。自动测量功能使操作更加简便，杜绝了人为误差。

城市：上海市
厂商性质：经销商
更新时间：2024-07-18
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产品介绍

品牌	其他品牌	产地类别	进口
应用领域	综合

人工晶状体中心厚度测量仪（低测力）产品特点：

探针自动上下，可由按钮控制或脚踏开关（选配）控制

人工晶状体中心厚度测量仪（低测力）可选配：

RS232电脑通讯接口
数据采集软件
校准套件（测厚+测力）
脚踏开关

技术参数：

测量范围：0-1999微米
测量分辨率和重复性：1微米
测量精度：±2微米（±1微米加上±1微米四舍五入）
探针测力：可调整，出厂设置为约0.5gm
标准测座：直径12.7mm，平面
显示：3.5位0.75吋液晶屏，每秒刷新3次
调零：旋钮调整约±15微米
测头：2.3mm直径顶部平整抛光
电源：220VAC，50Hz，5VA
输出：25针RS232电脑端口（选配）
环境：15~30℃，大90%相对湿度

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